Questões Concurso MCT

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio t_A. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

O ensaio poderia ser realizado considerando que, se uma unidade falhasse, ela não poderia ser substituída ou reparada. Nesse caso, a expressão utilizada para estimar a taxa de falhas seria diferente em relação ao procedimento do ensaio que considera substituição ou reparo.

Durante a fase caracterizada pela parte I da curva, as falhas podem ocorrer, principalmente, devido a problemas ocorridos na manufatura, ou relativos a materiais e componentes.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10^-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

A vida útil média de um transistor de silício como o descrito é inferior a 60.000 dias.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10^-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

Se um lote de 1.250.000 unidades desse tipo de transistor for observado durante uma hora, então um desses transistores falhará ao longo desse período.