Questões Concurso MCT

Julgue os itens que se seguem, acerca de disponibilidade associada a sistema ou equipamento.

Para efeito da definição de disponibilidade de um sistema ou equipamento, é considerada somente a parada de funcionamento de tal sistema ou equipamento para ações de manutenção corretiva.

A figura acima mostra a árvore de falhas para análise de confiabilidade associada à iluminação de uma sala de controle iluminada por duas lâmpadas ligadas em paralelo. Suponha que o não-funcionamento de pelo menos uma lâmpada deixa a sala às escuras. Diante dessa suposição, julgue o item abaixo.

Os denominados eventos primários que podem deixar a sala às escuras são: falta de energia e ambas as lâmpadas estão estragadas.

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

Normalmente, a cada determinação numérica de uma estimativa da taxa de falhas, é possível definir um intervalo de confiança correspondente. Essa informação fornece uma segurança da estimação, sendo possível, assim, estabelecer valores dentro de faixa definida.

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

O ensaio poderia ser realizado considerando que, se uma unidade falhasse, ela não poderia ser substituída ou reparada. Nesse caso, a expressão utilizada para estimar a taxa de falhas seria diferente em relação ao procedimento do ensaio que considera substituição ou reparo.

Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de falhas pode ser drasticamente reduzido por um processo denominado burn in.