Questões Concurso Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC

#Questão 485746 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Eletromigração pode ser definida como

A) o fenômeno do deslocamento do metal em linhas finas de interconexão, provocado pela transferência da quantidade de movimento das partículas que fluem no condutor aos átomos que compõe o metal.

B) o fenômeno do deslocamento do metal em linhas grossas de interconexão, provocado pela transferência da quantidade de movimento dos elétrons que fluem no condutor aos átomos que não compõe o metal.

C) o fenômeno da transformação do metal em grossas finas de interconexão, provocado pela transferência da quantidade de movimento dos elétrons que fluem no condutor aos átomos que compõe o metal.

D) o fenômeno do deslocamento do metal em linhas finas de interconexão, provocado pela transferência da quantidade de movimento dos íons que fluem no condutor aos átomos que compõe o metal.

E) o fenômeno do deslocamento do metal em linhas finas de interconexão, provocado pela transferência da quantidade de movimento dos elétrons que fluem no condutor aos átomos que compõe o metal.

#Questão 485748 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

No estrangulamento do filme, na Eletromigração, ocorre

A) um aumento de temperatura que acelera o processo pelo aumento de mobilidade dos átomos do metal, levando o filme à ruptura.

B) uma diminuição de temperatura que acelera o processo pelo aumento de mobilidade dos átomos do metal, levando o filme à ruptura.

C) uma diminuição de temperatura que acelera o processo pela diminuição de mobilidade dos átomos do metal, levando o filme à ruptura.

D) um aumento de temperatura que acelera o processo pela diminuição de mobilidade dos átomos do metal, levando o filme à ruptura.

E) uma diminuição de temperatura que não acelera o processo pela diminuição de mobilidade dos átomos do metal, levando o filme à ruptura.

#Questão 485750 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Com relação ao fenômeno da Eletromigração, pode-se afirmar que

A) o resultado dessa migração é a formação de degraus no filme, devido ao excesso de metal, ao lado de projeções, devidas ao seu acúmulo.

B) o resultado dessa migração é a formação de depressões no filme, devido à falta de metal, ao lado de projeções, devidas ao seu acúmulo.

C) o resultado dessa migração é a formação de degraus no filme, devido à falta de metal, ao lado de projeções, devidas ao seu acúmulo.

D) o resultado dessa migração é a formação de depressões no filme, devido ao excesso de metal, ao lado de projeções, devidas ao seu acúmulo.

E) o aumento da condutividade ocorre no estrangulamento do filme.

#Questão 485752 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

O aquecimento do substrato proporciona uma boa cobertura de degrau porque

A) aumenta a mobilidade dos elétrons.

B) aumenta a mobilidade dos átomos no interior do substrato.

C) aumenta a mobilidade dos íons.

D) aumenta a mobilidade dos átomos na superfície.

E) diminui a mobilidade dos átomos na superfície.

#Questão 485754 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Nos circuitos integrados, deseja-se determinar a fase em que se encontram os silicetos, utilizando-se, para isso, a difratografia por raios-X. Essa técnica permite determinar

A) o estiramento das moléculas.

B) a densidade areal do filme.

C) a composição física do filme.

D) a estrutura do filme formado.

E) a microestrutura do filme formado.

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