Questões de Legislação dos Órgãos Federais, Estaduais, Distritais e Municipais e dos Órgãos Internacionais do ano 2004

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

Normalmente, a cada determinação numérica de uma estimativa da taxa de falhas, é possível definir um intervalo de confiança correspondente. Essa informação fornece uma segurança da estimação, sendo possível, assim, estabelecer valores dentro de faixa definida.

Para estimar a taxa de falhas de unidades similares reparáveis que compõem determinado sistema, foi realizado o plano de ensaio de vida útil descrito a seguir: N unidades são observadas; unidades com falhas são imediatamente substituídas ou reparadas e colocadas em funcionamento novamente; o ensaio é concluído após o tempo de ensaio tA. O total de falhas no período de ensaio é igual a n. Acerca do plano descrito no ensaio e da estimativa da taxa de falhas nesse ensaio, julgue os itens subseqüentes.

O ensaio poderia ser realizado considerando que, se uma unidade falhasse, ela não poderia ser substituída ou reparada. Nesse caso, a expressão utilizada para estimar a taxa de falhas seria diferente em relação ao procedimento do ensaio que considera substituição ou reparo.

Na parte III da curva, o elevado crescimento da taxa de falhas pode ser drasticamente reduzido por um processo denominado burn in.

Durante a fase caracterizada pela parte I da curva, as falhas podem ocorrer, principalmente, devido a problemas ocorridos na manufatura, ou relativos a materiais e componentes.

Determinado tipo de transistor de silício apresenta taxa de falhas de 8 × 10^-7 falha/hora e é não-reparável. Com base nessas informações e considerando que a taxa de falhas é constante, julgue os itens a seguir.

Um transistor observado desde o instante inicial apresenta probabilidade de não falhar em até 1.250.000 horas superior a 33%.