Questões de Física do ano 2012

#Questão 485722 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Em relação aos instrumentos de medição no âmbito da metrologia, julgue as afirmativas abaixo.

I – O sensor é o dispositivo, utilizado em medição, que fornece uma grandeza de saída, a qual tem uma relação especificada com uma grandeza de entrada.

II – O transdutor de medição é o elemento de um sistema de medição que é diretamente afetado por um fenômeno, corpo ou substância que contém a grandeza a ser medida.

III – A resolução é a menor variação da grandeza medida que causa uma variação perceptível na indicação correspondente.

Em relação aos itens acima, está correta a alternativa

A) somente a afirmativa III está correta.

B) somente a afirmativa II está correta.

C) somente a afirmativa I está correta.

D) as afirmativas I, II e III estão corretas.

E) somente as afirmativas II e III estão corretas.

#Questão 485724 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Quando se diz que determinado campo da metrologia tem como objetivo principal a proteção do consumidor por meio do tratamento das unidades de medida, métodos e instrumentos de medição de acordo com as exigências técnicas e legais obrigatórias, está se referindo à

A) metrologia legal.

B) metrologia científica.

C) metrologia industrial.

D) normalização.

E) avaliação da conformidade.

#Questão 485726 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

O conceito de Rastreabilidade Metrológica ou, simplesmente, Rastreabilidade pode ser descrito como

A) propriedade de um resultado de medição pela qual tal resultado pode ser relacionado a uma referência através de uma cadeia ininterrupta e documentada de calibrações, cada uma contribuindo para a incerteza de medição.

B) sequência de padrões e calibrações utilizada para relacionar um resultado de medição a uma referência.

C) provimento de evidência objetiva de que um dado item atende a requisitos especificados.

D) comparabilidade de resultados de medição que, para grandezas de um tipo determinado, são rastreáveis metrologicamente à mesma referência.

E) relação matemática entre todas as grandezas que, sabidamente, estão envolvidas numa medição.

#Questão 485728 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Leia atentamente as afirmativas abaixo.

I – O plasma pode ser caracterizado por fluorescência de raios-X.

II – A espectrometria de emissão ótica é uma técnica de caracterização de plasma baseada na emissão de fótons característicos pelo plasma.

III – A espectrometria de emissão ótica possibilita a quantificação de espécies ativas e a medida da temperatura dos elétrons, dentre outras medidas possíveis.

Assinale a alternativa com a(s) afirmativa(s) correta(s).

A) Apenas I está correta.

B) Apenas II está correta.

C) Apenas III está correta.

D) Apenas I e II estão corretas.

E) Apenas II e III estão corretas.

#Questão 485730 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Os 3 (três) tipos principais de reatores para deposição química de vapor melhorada por plasma (PECVD) são as placas

A) perpendiculares, tubo horizontal e substrato único.

B) paralelas, tubo horizontal e substrato duplo.

C) paralelas, tubo horizontal e substrato único.

D) paralelas, tubo vertical e substrato único.

E) paralelas, tubo vertical e substrato duplo.

Questões de Física do ano 2012

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