Questões de Física do ano 2012

#Questão 485702 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A técnica que pode ser aplicada para a análise de materiais isolantes, pois não utiliza corrente de tunelamento, no modo contato, não contato ou no modo contato intermitente, é

A) microscopia de força atômica.

B) espectrometria de infravermelho por transformada de Fourrier.

C) microscopia eletrônica de varredura.

D) elipsometria espectral.

E) imageamento com feixe de íons focalizados.

#Questão 485704 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Exige o recobrimento de amostras não condutoras com uma camada de material condutivo. A metalização das amostras pode contribuir para melhorar o contraste. A técnica cuja preparação da amostra possui as características acima é

A) elipsometria Espectral.

B) fluorescência de raios-X por reflexão total.

C) espetroscopia de infravermelho por transformada de Fourrier.

D) microscopia eletrônica de varredura.

E) imageamento por emissão focalizada de íons.

#Questão 485706 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Considere os seguintes componentes de um equipamento de análises: canhão de elétrons, lentes magnéticas, câmara de vácuo e detectores. O equipamento que, em linhas gerais, possui todos os componentes acima é

A) microscópio de força atômica.

B) microscópio eletrônico de varredura.

C) equipamentos para análise de fluorescência de raio-X.

D) equipamento para análise de infravermelho por transformada de Fourier.

E) elipsômetro espectral.

#Questão 485708 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Abaixo são citadas desvantagens de um dos tipos de fonte de elétrons utilizada em um microscópio eletrônico de varredura: 1 – Evaporação do catodo. 2 – Baixo brilho. A fonte a que se refere as desvantagens mencionadas é a fonte

A) termoiônica.

B) de emissão por campo térmica.

C) de emissão por campo fria.

D) de emissão por campo (Schottky).

E) termoiônica ou de emissão de campo.

#Questão 485710 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Com base nas afirmativas abaixo, assinale a alternativa que apresenta as características de um fônon I – Ondas elásticas que se propagam pela rede cristalina. II – Propagam-se com velocidade igual à velocidade do som no meio de propagação. III – Propagam-se com velocidade igual à velocidade da luz no vácuo.

A) I.

B) II.

C) III.

D) I e II.

E) II e III.

Questões de Física do ano 2012

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