Questões de Física do ano 2012

#Questão 485691 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa

A) Sentenças I, II, III.

B) Sentenças I e II.

C) Sentenças III e IV.

D) Sentenças I e III.

E) Sentenças II e IV.

#Questão 485693 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

#Questão 485696 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Considere as afirmativas abaixo: I – formação de imagem a partir de elétrons secundários e retro-espalhados decorrentes da interação de um feixe de elétrons com uma amostra. II – análise dos raios-X resultantes da relaxação dos átomos excitados pela interação entre o feixe primário de elétrons e a amostra. III – análise dos raios-X secundários característicos originados da incidência de um feixe de raios-X primário sobre uma amostra segundo um ângulo inferior ao ângulo crítico. IV – análise da energia cinética e da quantidade de elétrons oriundos de uma amostra submetida a um feixe de raios-X incidente. Assinale a alternativa que relaciona corretamente as afirmativas acima com as técnicas de análise a que se referem.

A) I – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.

B) I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; III- Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.

C) I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Microscopia eletrônica de varredura; IV – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia.

D) I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.

E) I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Espectroscopia de raios- X por dispersão de energia; IV- Fluorescência de raios-X por reflexão total.

#Questão 485698 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise.

A) O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância.

B) Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica.

C) Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.

D) Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico.

E) Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.

#Questão 485700 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A incidência de um feixe de elétrons sobre uma amostra ocasiona interações elásticas e inelásticas. As afirmativas a seguir referem-se a esses tipos de interações. I – Afetam a trajetória dos elétrons, sem alterar suas velocidades. II – Originam os elétrons retro-espalhados. III – São consequências das interações entre os elétrons da amostra e os do feixe incidente. A(s) afirmativa(s) que se refere(m) às interações elásticas é (são)

A) I.

B) II.

C) III.

D) I e II.

E) II e III.

Questões de Física do ano 2012

Pesquise questões de concurso nos filtros abaixo