Questões de Física do ano 2012

#Questão 485681 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Quando o feixe de elétrons incide sobre uma amostra, os elétrons dos átomos são excitados, mudando de níveis energéticos. Ao retornarem para sua posição inicial, liberam a energia adquirida na forma de ondas com comprimento de onda no espectro de raios-X. Um detector instalado na câmara de vácuo do Microscópio Eletrônico de Varredura mede a energia associada a esse fóton. Como a energia emitida no decaimento dos elétrons é característica para cada elemento químico, é possível, no ponto de incidência do feixe, determinar quais os elementos químicos presentes naquela área. A técnica descrita acima corresponde a de

A) difração de raio-X.

B) espectroscopia de raio-X por dispersão de energia (EDS).

C) espectroscopia de fotoelétrons com raio-X.

D) litografia.

E) elipsometria espectral.

#Questão 485683 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Os microscópios eletrônicos têm seu funcionamento baseado na emissão de um feixe de elétrons sobre a amostra analisada. Com relação ao canhão de elétrons, é CORRETO afirmar que

A) o feixe de elétrons pode ser obtido apenas por meio do aquecimento do material da fonte.

B) as fontes termoiônicas devem ser aquecidas a temperaturas acima de sua temperatura de fusão.

C) as fontes de emissão de campo podem emitir feixes de elétrons à temperatura ambiente.

D) a densidade de corrente emitida aumenta indefinidamente com o aumento de temperatura.

E) o feixe de elétrons emitidos por uma fonte termoiônica é dito monocromático.

#Questão 485685 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que

A) só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.

B) a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.

C) a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.

D) um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.

E) o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.

#Questão 485687 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A espectroscopia de infravermelho por transformada de Fourier baseia-se na absorção de energia, na região do infravermelho do espectro eletromagnético, por uma amostra. Essa absorção de energia, com comprimento de onda na faixa do infravermelho,

A) será maior quanto menor a distância percorrida pelo feixe incidente.

B) ocorrerá quando o feixe incidente possuir energia suficiente para que ocorra uma transição eletrônica na amostra.

C) ocorrerá apenas em soluções muito diluídas.

D) será detectada quando ocasionar uma mudança no momento dipolar de uma molécula.

E) independerá da frequência de vibração das ligações químicas das substâncias.

#Questão 485689 - Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

A) Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.

B) É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.

C) As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.

D) Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.

E) Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

Questões de Física do ano 2012

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