Questões de Engenharia Eletrônica do ano 2008

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Listagem de Questões de Engenharia Eletrônica do ano 2008

#Questão 424403 - Engenharia Eletrônica, Geral, FUNRIO, 2008, INT, Pesquisador Adjunto I

Para reduzir a aberração esférica, devemos

#Questão 424404 - Engenharia Eletrônica, Geral, FUNRIO, 2008, INT, Pesquisador Adjunto I

Para a obtenção de um maior aumento no microscópio eletrônico de varredura, deve-se

#Questão 424405 - Engenharia Eletrônica, Geral, FUNRIO, 2008, INT, Pesquisador Adjunto I

O poder de resolução do microscópio eletrônico de transmissão é de

#Questão 424406 - Engenharia Eletrônica, Geral, FUNRIO, 2008, INT, Pesquisador Adjunto I

Quando um material orgânico destina-se à observação em um microscópio eletrônico de varredura de alto vácuo, deve passar pela etapa de secagem pelo ponto crítico. O “ponto crítico” refere-se

#Questão 424407 - Engenharia Eletrônica, Geral, FUNRIO, 2008, INT, Pesquisador Adjunto I

Entre os sinais produzidos na interação do feixe com o material, um tipo particularmente importante para estudos analíticos que é gerado quando os elétrons altamente energéticos do feixe interagem com os elétrons das camadas orbitais do átomo, é (são):

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