Questões sobre Eletrônica Digital

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No contexto de teste funcional e estrutural de um sistema afirma-se o que segue. I. O teste funcional sempre pode ser executado e é a de forma de teste que proporciona a maior cobertura de falhas em menor tempo de execução. II. O teste estrutural é destinado somente para o teste de sistemas que tenham falhado no teste funcional e necessita-se localizar o que causou a falha funcional. III. Para a elaboração de um teste estrutural são necessários o netlist das portas lógicas que implementa o circuito sob teste e o modelo das falhas que deseja-se testar. Tendo em vistas as afirmações de I a III acima, temos que:

Dada uma memória embarcada em um sistemas em chip (SoC) organizada em 210 palavras de 08 bits cada. Quantos ciclos, no mínimo, de leitura e escrita são necessários para detectar a presença de falhas de transição em alguma posição.

No contexto do fluxo de projeto de um circuito integrado afirma-se o que segue.

I. O resultado da síntese lógica de um sistema digital é um netlist de portas lógicas que implementa a funcionalidade modelada em HDL.

II. O emprego de linguagem HLD Verilog para modelamento de um sistema nos dá um nível de abstração dos detalhes relativos à sua implementação física.

III. Tendo o projeto passado pela análise estática de temporização (STA – static timing analysis ) e pela checagem de equivalência lógica (LEC – logic equivalence checking) durante a síntese lógica não há necessidade de repetir estes passos novamente após o leiaute.

A etapa de síntese da malha de distribuição de relógio (CTS – clock tree synthesis) de um sistema digital deve ser feita:

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