Questões sobre Conceitos Básicos

#Questão 413935 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Para uma gestão mais eficiente, são utilizados os seguintes métodos destinados à avaliação e ao controle de materiais armazenados em depósitos ou almoxarifados:

A) Custo médio, PEPS e UEPS.

B) Contagem, custo médio e etiquetagem.

C) Inventário, custo médio e sistema de caixas.

D) Custo médio, etiquetagem e UEPS.

E) PEPS, UEPS e etiquetagem.

#Questão 413980 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Qual é o objetivo de se realizar uma simulação falhas?

A) Ter certeza que o circuito funciona em qualquer circunstância.

B) Introduzir um conjunto conhecido de falhas e verificar se o circuito é imune a elas.

C) Buscar um conjunto de vetores de entrada e de saída que possa auxiliar na identificação de possíveis defeitos de fabricação.

D) Verificar se o circuito está funcionando conforme as especificações.

E) Evitar o surgimento de falhas do tipo excesso de atraso.

#Questão 413981 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Que tipo de falha tipicamente necessita um teste de excesso de atraso?

A) Falha do tipo stuck-at 1.

B) Falha do tipo stuck-at 0.

C) Falha do tipo circuito aberto.

D) Falha do tipo circuito fechado.

E) Falha do tipo resistiva causando um caminha reagir mais lentamente.

#Questão 413993 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Dentro das possíveis arquiteturas para DFT afirma-se o que segue.

I. Para possibilitar o autoteste integrado (‘built-in self test’) em um sistema, é necessária a presença de um bloco de geração automática de vetores de testes e compactação do resultado de teste com o respectivo mecanismo de analise de assinatura de falha.

II. O emprego de técnicas de boundary scan (JTAG) só é possível em sistemas cuja a técnica de testabilidade é o full scan (escaneamento completo).

III. Em mecanismos de compactação da resposta baseados em Multiple-Input Signature Register (MISR), emprega-se uma topologia baseada em Linear-Feedback-Shift-Register (LSFR) que possibilita a detecção de falhas e o diagnóstico preciso das falhas existentes bem como a reconstrução dos vetores aplicados.

Podemos dizer que:

A) Apenas I é verdadeira.

B) Apenas III é verdadeira.

C) Apenas I e II verdadeira.

D) Apenas I e III verdadeira.

E) I, II e III são verdadeiras.

#Questão 414002 - Engenharia Elétrica, Conceitos Básicos, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

O teste de um sistema com 4 entradas necessita um conjunto de vetores de testes conforme mostrados abaixo.

T0 = 0X01

T1 = 1XX1

T2 = X001

T3 = X111

Usando o conceito de compactação dos vetores de teste acima, qual a menor sequência de vetores que surtiria o mesmo efeito na presença de falhas simples?

A) Aplicação dos vetores 0001 e 1001.

B) Aplicação dos vetores 0001, 1001 e 1111.

C) Aplicação dos vetores 1101 e 1011.

D) Aplicação dos vetores 0001 e 1111.

E) Não é possível compactar.

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