Questões de Engenharia Elétrica do ano 2004

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V _m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito II, o diodo D1 está com defeito.

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V _m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito III, não há necessidade de se retirar o diodo D₁ do circuito para um teste eficaz com multímetro, pois, pelo valor de V _m, esse diodo está funcionando corretamente.

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V _m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito III, o diodo D2 deveria estar conduzindo, mas a tensão V _m indica que esse dispositivo se encontra com defeito.

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V _m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito IV, é correto concluir que o diodo D₁ encontra-se com defeito, independentemente de D₂ estar com defeito ou não.

Para cada circuito de I a IV mostrado acima, V_e representa a tensão de entrada e V_s, a tensão de saída. Supondo que os amplificadores operacionais comportam-se de forma ideal, é correto afirmar que, para o

circuito I, V_s = V_e.