Para procurar garantir a testabilidade de sistemas integrados, neles são incluídas estruturas com o propósito específico de facilitar a controlabilidade e observabilidade dos nós internos. Com relação a essas estruturas, julgue os itens a seguir.
Na célula de scan mais usada, seleciona-se, por meio de um multiplexador, se a entrada do elemento de armazenamento vem da operação normal do circuito ou de uma entrada de teste. Essa configuração tem a vantagem de não alterar a operação normal de circuito, nem introduzir atrasos adicionais.
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