A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados –...

#Questão 426154 - Engenharia Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese afirmar, EXCETO:

A) O canhão de íons usualmente é de Ga⁺, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.

B) Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.

C) Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga⁺, a amostra é atacada.

D) Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no interior do CI.

E) A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.

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