Informação estrutural é muito importante tanto para o des...

#Questão 426141 - Engenharia Física, Geral, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Informação estrutural é muito importante tanto para o desenvolvimento de novos dispositivos, quanto para controle de processos em microfabricação. Tendo em vista o uso de raios X em microeletrônica aponte qual afirmativa NÃO é verdadeira dentre as seguintes alternativas:

A) Através de difração de raios X é possível medir a tensão mecânica nas camadas de um dispositivo.

B) O difratograma de raios X é usado para identificar quimicamente os elementos presentes nos filmes depositados.

C) As espessuras de camadas epitaxiais em semicondutores avançados podem ser obtidas do seu difratograma de raios X

D) Os tamanhos dos grãos das trilhas metálicas dos circuitos integrados podem ser medidos por difração de raios X.

E) Através de difração de raios X o cristal de silício é orientado para o processo de fatiamento em wafers e identificação.

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