Qual a técnica utilizada para medir a espessura e o índic...

#Questão 413600 - Engenharia Elétrica, Princípios de Ciências dos Materiais, FUNRIO, 2012, Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC, Analista Administrativo

Qual a técnica utilizada para medir a espessura e o índice de refração de filmes de óxido de Si, de nitreto de Si e de silício policristalino, usados na tecnologia CMOS?

Navegue em mais questões

{TITLE}

{CONTENT}

{TITLE}

{CONTENT}
Estude Grátis